《医用X射线诊断设备质量控制检测规范》WS76—2020正式实施日期是()
A.2021年5月1日
B.2021年1月1日
C.2020年12月1日
D.2020年10月1日
A、2021年5月1日
A.2021年5月1日
B.2021年1月1日
C.2020年12月1日
D.2020年10月1日
A、2021年5月1日
第2题
第3题
A.在平板检测器中X射线的散射减少,失锐大为降低
B.对比度分辨率的高低主要取决于动态范围的大小
C.在平板检测器中X射线的散射减少,对比度大大提高
D.失锐的大小主要取决于动态范围的大小
第4题
A.质量控制资料完整
B.单位工程所含的分部工程质量均验收合格
C.单位工程所含分部工程有关安全和功能的检测资料完整
D.主要功能项目的抽查结果应符合相关专业质量验收规范的规定
E.主机设备经过168小时的连续试运行检验符合启动规范的要求
第6题
A、完整性检测
B、焊化学成分
C、x射线无损检测
D、焊缝度
第7题
现需要对某变电器中自动控制设备设置一个异动的实时检测环节,它能监视该变电自动控制设备的工作状况,其简化模型如图2-25所示。
已知临近的变电器产生的啾啾噪声对这一实时检测环节产生加性干扰,有可能影响控制中心作出正确判决。已知控制中心接收到10s已经受到噪声污染的信号xn(t),记录的波形,如图2-26所示。为了有效分离噪声,需要单独检测加性噪声源特性,于是在附近的变电器处记录得20s噪声m(t)其时域波形,如图2-27所示。试判断噪声对原信号的污染程度并从xn(t)中恢复出原始信息。
产生以上两个信号波形的源代码如下:
T=0.035;tb=0:T:20;F=1/(T);%x+n补零滤波
f0=2;t1=1;f1=6;%连续时间噪声信号m(t)波形演示
y1=20*chirp(tb,f0,t1,f1);%啾啾噪声m(t)
figure(1);
plot(tb,y1);%记录的20秒噪声波形
title('噪声波形');xlabel('Time(s)');ylabel('Amplitude');
n=0: 0.005: 10;Ts=0.005;Fs1/(Ts);%采样参数设置
x1=cos(2*pi*65*n). *[cos(2*pi*20*n)+1];%原始信号x(n)模型:由x1和x2的乘积构成
v=zeros(1,2000):
v(100)=0.5;v(1)=2.5;v(150)=-1.2;v(250)=1;v(700)=3.5;
v(550)=1.5;v(950)=1.5;v(1550)=-2.5;v(1850)=1.5;
u=sinc(3*n)+1:
w=conv(u, v);
x2(1: 2001)=w(1: 2001);
x=x1. *x2;
f0=2;t1=1;f1=6;%啾啾噪声m(n)用y1表示
y1=20*chirp(n,f0,t1,f1);
xn=y1+x;%加性干扰下的受污染信号xn(t)=x(n)+m(n)
figure(2);
plot(n,xn);%记录的10秒受污染信号波形
title('受污染信号波形'); xlabel('Time(s)');ylabel('Amplirude');
第9题