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[主观题]

在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()

在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()

A.错误

B.正确

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第1题

在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()

在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。()

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第2题

一个取向了的单结晶聚合物样品在X射线衍射仪上在张力作用下形变,(002)晶面的衍射峰位置随样品上应力的增加

一个取向了的单结晶聚合物样品在X射线衍射仪上在张力作用下形变,(002)晶面的衍射峰位置随样品上应力的增加而变的数据如下表:

应力/MPa

布拉格角/(°)

0

37.483

40

37.477

80

37.471

120

37.466

160

37.460

200

37.454

假定作用在晶体上的应力等于施加在整个样品上的应力,计算在聚合物中晶体沿链方向上的杨氏模量。(用Cu靶Kα线的波长为0.1542nm)

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第3题

当样品为单晶体时,可以采用下列哪种X射线衍射方法()

A.劳厄法

B.粉末法

C.德拜法

D.转动晶体法

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第4题

利用X射线衍射仪进行定性分析时,若已知样品的一种或几种化学成分,可以使用()

A:数字索引

B:Hanawalt索引

C:Fink索引

D:字母索引

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第5题

下图是回转照相法的原理图。单晶样品置于底片圆筒底 部中心,垂直z方向的X射线照射样品,在底片某处产生波

下图是回转照相法的原理图。单晶样品置于底片圆筒底

部中心,垂直z方向的X射线照射样品,在底片某处产生波长差为lλ的衍射点,试推导样品晶胞参数c的表达公式。

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第6题

常用的X射线衍射方法是()

A.劳厄法

B.粉末法

C.德拜法

D.转动晶体法

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第7题

对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

对样品进行表面形貌分析时应使用()。

A、X射线衍射(XRD)

B、透射电镜(TEM)

C、扫描电镜(SEM)

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第8题

1953年沃森和克里克通过X射线衍射分析的研究,提出()模式理论。
1953年沃森和克里克通过X射线衍射分析的研究,提出()模式理论。

1953年沃森和克里克通过X射线衍射分析的研究,提出()模式理论。

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第9题

1953年沃森和克里克通过X射线衍射分析研究,提出__________________模式理论。

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第10题

从取向PE纤维得到的X射线衍射图(Cu Ka)由赤道线上一系列点和正负一层线上的点组成。样品到底片的距离为30mm,

从取向PE纤维得到的X射线衍射图(Cu Ka)由赤道线上一系列点和正负一层线上的点组成。样品到底片的距离为30mm,一层线到赤道线的距离为22.9mm。(1)计算重复周期C。

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第11题

X射线电子能谱仪主要部件包括______、样品室、______和______。
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