第1题
A . 化学干扰
B . 物理干扰
C . 光散射
D . 吸收
第2题
A.火焰中待测元素发射的谱线
B.干扰元素发射的谱线
C.光源辐射的非共振线
D.分子吸收
第3题
A . 火焰中待测元素发射的谱线
B . 干扰元素发射的谱线
C . 光源辐射的非共振线
D . 分子吸收
第4题
A、扣除背景
B、使用高温火焰
C、加入释放剂、保护剂和缓冲剂
D、加入比待测元素更易电离的元素来抑制待测元素的电离
第5题
A . 干扰较少
B . 易达到较高的精密度
C . 检出限较低
D . 选择性较强
第6题
第7题
第8题
A.标准曲线法
B.标准加入法
C.内标法
D.直接比较法
第9题
A.加入释放剂和保护剂
B.采用标准加入法
C.使用高温火焰
D.配置与被测式样组成相似的标准样品
第10题
A.电离干扰
B.物理干扰
C.光学干扰
D.化学干扰
第11题
A.加入基体改进剂
B.配制与待测试样溶液相似组成的标准溶液,在相同条件下测定
C.提高火焰温度
D.进行背景扣除
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