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[单选题]
半导体应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。
A.应变片几何尺寸的变化
B.半导体材料的弹性模量的变化
C.半导体电阻率的变化
D.半导体材料压阻系数的变化
答案
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A.应变片几何尺寸的变化
B.半导体材料的弹性模量的变化
C.半导体电阻率的变化
D.半导体材料压阻系数的变化
第1题
A.贴片位置的温度变化
B.电阻丝几何尺寸的变化
C.电阻材料的电阻率的变化
第9题
电阻应变片的灵敏度 表达式为,对于金属应变片来说:S=___,而对于半导体应变片来说S=___。
第11题
半导体应变片是根据______原理工作的。
A.电阻应变效应 B.压阻效应 C.热阻效应