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[单选题]

半导体应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。

A.应变片几何尺寸的变化

B.半导体材料的弹性模量的变化

C.半导体电阻率的变化

D.半导体材料压阻系数的变化

答案
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更多“半导体应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。”相关的问题

第1题

金属丝应变片在测量某一构件的应变时,其电阻的相对变化主要由()引起的。
金属丝应变片在测量某一构件的应变时,其电阻的相对变化主要由()引起的。

A.贴片位置的温度变化

B.电阻丝几何尺寸的变化

C.电阻材料的电阻率的变化

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第2题

金属丝应变片在测某一构件的应变时,其电阻的相对变化率主要由电阻材料的电阻率的变化决定。()
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第3题

金属丝应变片在测量构件的应变时,电阻的相对变化主要由()来决定的。

A.贴片位置的温度变化

B.电阻丝几何尺寸的变化

C.电阻丝材料的电阻率变化

D.贴片位置的变化

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第4题

下列第()组传感器都是把被测量变换为电动势输出的。

A.热电偶、电涡流、电阻应变

B.热电偶、霍尔、半导体气敏传感器

C.硅光电池、霍尔、磁电式

D.压电、霍尔、电感式

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第5题

半导体应变片的工作原理是基于半导体材料的______ 。

A.压阻效应

B.应变效应

C.霍尔效应

D.光电效应

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第6题

在预应力混凝土受弯构件承载力计算时,如何保证纵向受拉钢筋极限应变取值为0.01的控制条件?
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第7题

下列传感器中()是基于压阻效应的。

A.金属应变片

B.半导体应变片

C.压敏电阻

D.热敏电阻

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第8题

构件作纯弯曲形变时,构件面上部的应变为拉应变,下部为压应变,且两者是什么关系?()

A.绝对值相同且符号相反

B.绝对值相同且符号相同

C.绝对值相同符号相反

D.绝对值相同符号相同

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第9题

电阻应变片的灵敏度 表达式为,对于金属应变片来说:S=___,而对于半导体应变片来说S=___。

电阻应变片的灵敏度 表达式为,对于金属应变片来说:S=___,而对于半导体应变片来说S=___。

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第10题

半导体应变片的工作原理基于半导体材料的热阻效应。()
半导体应变片的工作原理基于半导体材料的热阻效应。()

A.正确

B.错误

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第11题

半导体应变片是根据______原理工作的。 A.电阻应变效应 B.压阻效应 C.热阻效应

半导体应变片是根据______原理工作的。

A.电阻应变效应 B.压阻效应 C.热阻效应

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